HEAL DSpace

DLTS and PL studies of proton radiation defects in tin-doped FZ silicon

Αποθετήριο DSpace/Manakin

Εμφάνιση απλής εγγραφής

dc.contributor.author Simoen, E en
dc.contributor.author Claeys, C en
dc.contributor.author Privitera, V en
dc.contributor.author Coffa, S en
dc.contributor.author Kokkoris, M en
dc.contributor.author Kossionides, E en
dc.contributor.author Fanourakis, G en
dc.contributor.author Larsen, A en
dc.contributor.author Clauws, P en
dc.date.accessioned 2014-03-01T01:51:30Z
dc.date.available 2014-03-01T01:51:30Z
dc.date.issued 2002 en
dc.identifier.uri https://dspace.lib.ntua.gr/xmlui/handle/123456789/26334
dc.subject High Energy en
dc.subject Optical Activity en
dc.subject Reference Material en
dc.subject Deep Level Transient Spectroscopy en
dc.subject Float Zone en
dc.title DLTS and PL studies of proton radiation defects in tin-doped FZ silicon en
heal.type journalArticle en
heal.identifier.primary 10.1016/S0168-583X(01)00911-9 en
heal.identifier.secondary http://dx.doi.org/10.1016/S0168-583X(01)00911-9 en
heal.publicationDate 2002 en
heal.abstract In this paper, deep level transient spectroscopy (DLTS) is applied to study the deep levels in tin-doped and high-energy proton irradiated n-type float-zone (FZ) silicon. The results will be compared with irradiated tin-free FZ reference material, in order to evaluate the hardening potential. It will be shown that in Sn-doped silicon (FZ:Sn), a number of additional deep levels can be en
heal.journalName Nuclear Instruments & Methods in Physics Research Section B-beam Interactions With Materials and Atoms en
dc.identifier.doi 10.1016/S0168-583X(01)00911-9 en


Αρχεία σε αυτό το τεκμήριο

Αρχεία Μέγεθος Μορφότυπο Προβολή

Δεν υπάρχουν αρχεία που σχετίζονται με αυτό το τεκμήριο.

Αυτό το τεκμήριο εμφανίζεται στην ακόλουθη συλλογή(ές)

Εμφάνιση απλής εγγραφής