dc.contributor.advisor |
Παρασκευαΐδης, Κωνσταντίνος |
el |
dc.contributor.author |
Μόσχος, Ιωάννης Γ.
|
el |
dc.contributor.author |
Moschos, Ioannis G.
|
en |
dc.date.accessioned |
2014-06-04T10:10:32Z |
|
dc.date.available |
2014-06-04T10:10:32Z |
|
dc.date.copyright |
2014-01-17 |
- |
dc.date.issued |
2014-06-04 |
|
dc.date.submitted |
2014-01-17 |
- |
dc.identifier.uri |
https://dspace.lib.ntua.gr/xmlui/handle/123456789/38679 |
|
dc.identifier.uri |
http://dx.doi.org/10.26240/heal.ntua.3499 |
|
dc.description |
82 σ. |
el |
dc.description |
Εθνικό Μετσόβιο Πολυτεχνείο--Μεταπτυχιακή Εργασία. Διεπιστημονικό-Διατμηματικό Πρόγραμμα Μεταπτυχιακών Σπουδών (Δ.Π.Μ.Σ.) “Φυσική και Τεχνολογικές Εφαρμογές” |
el |
dc.description.abstract |
Το αντικείμενο της παρούσας διπλωματικής εργασίας είναι η μελέτη ανάπτυξης οξειδίου
του μονοσθενούς χαλκού, Cu2O, πάνω σε νανοραβδία οξειδίου του ψευδαργύρου, ZnO.
Τελικός στόχος είναι η ανάπτυξη p-n ετεροεπαφής για οπτοηλεκτρονικές εφαρμογές με n-
νανοραβδία ZnO και p-μικροκρυστάλλους Cu2O. Η ηλεκτροεναπόθεση διερευνήθηκε και
επιτεύχθηκε σε απλές χημικές κυψελίδες χαμηλής θερμοκρασίας (66±3 oC).
Πραγματοποιήθηκε δομικός και μορφολογικός χαρακτηρισμός καθώς και χημικός
προσδιορισμός των μικροκρυστάλλων Cu2O και των νανοραβδίων ZnO που αναπτύχθηκαν,
με Ηλεκτρονικό Μικροσκόπιο Σάρωσης (SEM), και Περιθλασιμετρία ακτίνων Χ (XRD). Τέλος
έγιναν ηλεκτρικές μετρήσεις με Μικροσκοπία Ατομικής Δύναμης (C-AFM) για να
διερευνηθούν τα p-n χαρακτηριστικά . |
el |
dc.description.abstract |
The present thesis investigates the growth parameters of the electrodeposition of
microcrystalline copper(I) oxide (Cu2O) on zinc oxide (ZnO) nanorods. The experiments
conducted aimed towards the development of a p-n heterojunction for optoelectronic
applications. The effects of various conditions on the electrodeposition of copper oxide
were investigated and achieved in simple low temperature (66±3 oC) electrochemical cells.
Morphological characterisation and structural identification were performed using scanning
electron microscopy (SEM) and X-ray diffraction. Finally electric measurments were
performed with the use of Conductive Atomic Force Microscopy (C-AFM) in order to
ascertain the p-n behavior of the developed microstructures. |
en |
dc.description.statementofresponsibility |
Ιωάννης Γ. Μόσχος |
el |
dc.language.iso |
el |
en |
dc.rights |
ETDRestricted-policy.xml |
en |
dc.subject |
Οξείδιο του ψευδαργύρου |
el |
dc.subject |
Νανοραβδία |
el |
dc.subject |
Οξείδιο του μονοσθενούς χαλκού |
el |
dc.subject |
Ηλεκτροεναπόθεση |
el |
dc.subject |
Ανάπτυξη και χαρακτηρισμός |
el |
dc.subject |
Ηλεκτρονικό μικροσκόπιο σάρωσης |
el |
dc.subject |
Περιθλασιμετρία ακτίνων X |
el |
dc.subject |
Μικροσκόπιο ατομικής δύναμης |
el |
dc.subject |
Εξαχνωτής Electron |
el |
dc.subject |
Ετεροεπαφή p-n |
el |
dc.subject |
Zinc oxide |
en |
dc.subject |
Nanorods |
en |
dc.subject |
Copper(I) oxide |
en |
dc.subject |
Electrodeposition |
en |
dc.subject |
Growth and characterisation |
en |
dc.subject |
SEM |
en |
dc.subject |
XRD |
en |
dc.subject |
AFM |
en |
dc.subject |
Electron BEAM PVD |
en |
dc.subject |
P-n heterojunction |
en |
dc.title |
Μελέτη ανάπτυξης οξειδίου του μονοσθενούς χαλκού σε νανοραβδία οξειδίου του ψευδαργύρου |
el |
dc.title.alternative |
Investigation of the growth parametres of the electrodeposition of microcrystalline copper(I) oxide on zinc oxide nanorods |
en |
dc.type |
masterThesis |
el (en) |
dc.date.accepted |
2013-06-28 |
- |
dc.date.modified |
2014-01-17 |
- |
dc.contributor.advisorcommitteemember |
Μπούκος, Νικόλαος |
el |
dc.contributor.advisorcommitteemember |
Ζεργιώτη, Ιωάννα |
el |
dc.contributor.committeemember |
Μπούκος, Νικόλαος |
el |
dc.contributor.committeemember |
Παρασκευαΐδης, Κωνσταντίνος |
el |
dc.contributor.committeemember |
Ζεργιώτη Ιωάννα |
el |
dc.contributor.department |
Εθνικό Μετσόβιο Πολυτεχνείο. Σχολή Εφαρμοσμένων Μαθηματικών & Φυσικών Επιστημών. Τομέας Φυσικής |
el |
dc.date.recordmanipulation.recordcreated |
2014-06-04 |
- |
dc.date.recordmanipulation.recordmodified |
2014-06-04 |
- |