HEAL DSpace

Ηλεκτρικός χαρακτηρισμός και προσομοίωση μνημών εναλλαγής

Αποθετήριο DSpace/Manakin

Εμφάνιση απλής εγγραφής

dc.contributor.author Καραγεωργίου, Ασημίνα el
dc.contributor.author Karageorgiou, Asimina en
dc.date.accessioned 2015-11-04T09:08:59Z
dc.date.available 2016-11-04T03:00:19Z
dc.date.issued 2015-11-04
dc.identifier.uri https://dspace.lib.ntua.gr/xmlui/handle/123456789/41509
dc.identifier.uri http://dx.doi.org/10.26240/heal.ntua.6898
dc.description Εθνικό Μετσόβιο Πολυτεχνείο--Μεταπτυχιακή Εργασία. Διεπιστημονικό-Διατμηματικό Πρόγραμμα Μεταπτυχιακών Σπουδών (Δ.Π.Μ.Σ.) “Μικροσυστήματα και Νανοδιατάξεις” el
dc.rights Αναφορά Δημιουργού-Μη Εμπορική Χρήση-Όχι Παράγωγα Έργα 3.0 Ελλάδα *
dc.rights.uri http://creativecommons.org/licenses/by-nc-nd/3.0/gr/ *
dc.subject Διοξείδιο του Τιτανίου el
dc.subject ΜΙΜ el
dc.subject Μνήμες el
dc.subject RRAMs en
dc.subject Conductive filament en
dc.subject COMSOL el
dc.title Ηλεκτρικός χαρακτηρισμός και προσομοίωση μνημών εναλλαγής el
heal.type masterThesis
heal.classification Νανοτεχνολογία el
heal.classification Μικροηλεκτρονική el
heal.language el
heal.access free el
heal.recordProvider ntua el
heal.publicationDate 27-08
heal.abstract Στην παρούσα εργασία μελετήθηκαν δομές εναλλαγής μνήμης: TiN/Ti/TiO2/Au/SiO2/p-Si με και χωρίς νανοσωματίδια πλατίνας στο ενεργό οξείδιο, με τη διάμετρο ή την πυκνότητά αυτών να διαφέρει. Το δείγμα αναφοράς είναι αυτό χωρίς καθόλου νανοσωματίδια κατά τη μελέτη, ενώ για τα υπόλοιπα δείγματα ισχύει πως οι διάμετροι των νανοσωματιδίων είναι 2nm ή 5nm και χαμηλής συγκέντρωσης ή 3nm και υψηλής συγκέντρωσης. Τα νανοσωματίδια εμφυτεύτηκαν με τη μέθοδο DC magnetron sputtering κατά τρόπο που να βρίσκονται στο επίπεδο του μέσου του ενεργού στρώματος. Οι δομές μελετήθηκαν ηλεκτρικά εξάγοντας χαρακτηριστικές C-V/C-f/G-V/G-f και εξετάστηκαν ως προς την εμπέδηση βάσει των οποίων παρουσιάστηκαν τα ισοδύναμά τους κυκλώματα. Τα αποτελέσματα παρουσίασαν από μικρές διαφοροποίησες σε σχέση με το δείγμα αναφοράς έως και εντελώς διαφορετική συμπεριφορά, καθιστώντας την παρουσία των νανοσωματιδίων σημαντικής διαμέτρου και πυκνότητας καθοριστικό παράγοντα. Για κάθε δείγμα προτείνεται σχεδόν ένα διαφορετικός μηχανισμός μεταγωγής λόγω των ηλεκτρικών αποτελεσμάτων , ενώ παράλληλα παρουσιάζεται για σύγκριση και μία προσομοίωση COMSOL για τις δομές αυτές, στα πλαίσια της οποίας το μοντέλο που χρησιμοποιήθηκε αφορά στη μεταγωγή που βασίζεται στη μεταπήδηση ηλεκτρονίων δια μέσω κενών θέσεων οξυγόνου. el
heal.advisorName Τσουκαλάς, Δημήτριος el
heal.committeeMemberName Τσέτσερης, Λεωνίδας, el
heal.committeeMemberName Ράπτης, Ιωάννης el
heal.academicPublisher Εθνικό Μετσόβιο Πολυτεχνείο. Σχολή Εφαρμοσμένων Μαθηματικών και Φυσικών Επιστημών el
heal.academicPublisherID ntua
heal.numberOfPages 90 σ. el
heal.fullTextAvailability false


Αρχεία σε αυτό το τεκμήριο

Οι παρακάτω άδειες σχετίζονται με αυτό το τεκμήριο:

Αυτό το τεκμήριο εμφανίζεται στην ακόλουθη συλλογή(ές)

Εμφάνιση απλής εγγραφής

Αναφορά Δημιουργού-Μη Εμπορική Χρήση-Όχι Παράγωγα Έργα 3.0 Ελλάδα Εκτός από όπου ορίζεται κάτι διαφορετικό, αυτή η άδεια περιγράφεται ως Αναφορά Δημιουργού-Μη Εμπορική Χρήση-Όχι Παράγωγα Έργα 3.0 Ελλάδα