Διαγράμματα Ελέγχου Θέσης και Διασποράς Διεργασιών

Χριστοφοράκη, Ευαγγελία; Christoforaki, Evangelia

dc.contributor.author	Χριστοφοράκη, Ευαγγελία	el
dc.contributor.author	Christoforaki, Evangelia	en
dc.date.accessioned	2017-11-16T10:05:41Z
dc.date.available	2017-11-16T10:05:41Z
dc.date.issued	2017-11-16
dc.identifier.uri	https://dspace.lib.ntua.gr/xmlui/handle/123456789/45927
dc.identifier.uri	http://dx.doi.org/10.26240/heal.ntua.7443
dc.description	Εθνικό Μετσόβιο Πολυτεχνείο--Μεταπτυχιακή Εργασία. Διεπιστημονικό-Διατμηματικό Πρόγραμμα Μεταπτυχιακών Σπουδών (Δ.Π.Μ.Σ.) “Εφαρμοσμένες Μαθηματικές Επιστήμες”	el
dc.rights	Default License
dc.subject	Διαγράμματα Ελέγχου	el
dc.subject	ΣΕΔ	el
dc.subject	Σωρευτικά Αθροιστικά Διαγράμματα Ελέγχου	el
dc.subject	Βελτιωμένα Διαγράμματα	el
dc.subject	Διαγράμματα Ελέγχου	el
dc.subject	SPC	el
dc.subject	Control charts	el
dc.subject	CUSUM	el
dc.subject	EWMA	el
dc.subject	Max CUSUM	el
dc.title	Διαγράμματα Ελέγχου Θέσης και Διασποράς Διεργασιών	el
dc.title	Control Charts for Process Location and Dispersion	en
heal.type	masterThesis
heal.classification	Στατιστική	el
heal.classification	Statistics	el
heal.access	free
heal.recordProvider	ntua	el
heal.publicationDate	2017-10-12
heal.abstract	Ο Στατιστικός Έλεγχος Διεργασιών (ΣΕΔ) είναι μια συλλογή χρήσιμων εργαλείων για την ανίχνευση κάποιας μεταβολής σε μια διεργασία και έχει ευρεία εφαρμογή στον τομέα της βιομηχανίας, της ιατρικής και σε άλλους τομείς όπου παρακολουθείται ο μέσος και η μεταβλητότητα της εκάστοτε διεργασίας. Τα διαγράμματα ελέγχου είναι το πιο χρήσιμο, πιο αποτελεσματικό και πιο συνηθισμένο εργαλείο για την παρακολούθηση των παραμέτρων θέσης και διασποράς μιας διεργασίας. Στο 1ο Κεφάλαιο περιγράφονται τα κύρια χαρακτηριστικά του Στατιστικού Ελέγχου Ποιότητας, του Στατιστικού Ελέγχου Διεργασιών (ΣΕΔ) καθώς και των Διαγραμμάτων Ελέγχου. Επίσης, γίνεται μια συνοπτική παρουσίαση των διαγραμμάτων ελέγχου μεταβλητών, διαγραμμάτων ελέγχου ιδιοτήτων, αλλά και των διαγραμμάτων CUSUM και EWMA. Στο 2ο Κεφάλαιο παρουσιάζονται κάποια βελτιωμένα διαγράμματα για το εύρος R και την τυπική απόκλιση S που προτάθηκαν από τους Khoo & Lim (2005) και τον Zhang (2014). Στο 3ο Κεφάλαιο γίνεται αναφορά στα διαγράμματα ελέγχου μνήμης για την παρακολούθηση της διασποράς μιας διεργασίας. Για τον σκοπό αυτό περιγράφονται τα διαγράμματα CUSUM με χρήση της τεχνικής FIR καθώς και τα εύρωστα διαγράμματα ελέγχου CUSUM για την διασπορά, λαμβάνοντας υπόψη τη χρήση διαφόρων εύρωστων εκτιμητριών. Στο 4ο Κεφάλαιο παρουσιάζονται κάποια διαγράμματα ελέγχου για τον από κοινού έλεγχο του μέσου και της διασποράς μιας διεργασίας. Τα διαγράμματα τα οποία περιγράφονται είναι το Max – CUSUM και τα διάγραμμα EWMA – SC.	el
heal.abstract	Statistical process control (SPC) is a collection of useful tools for detecting change in a process and it has wide application in the industrial, the medical and other fields where process mean and process variation are being monitored. Control chart is the most useful, the most effective and the most commonly used tool for monitoring the location and dispersion parameters of a process. In 1st Chapter the main features of statistical quality control, statistical process control (spc) and control charts are described. Also, we provide a summary of control charts for variables, control charts for attributes, CUSUM and EWMA charts. In 2nd Chapter improved R control charts by Khoo and Lim (2005), and improved S control charts, proposed by Zhang (2014), are being presented. In 3rd Chapter we refer to the memory control charts for monitoring the dispersion of a process. For this purpose, we describe improve CUSUM charts using FIR for monitoring, and robust CUSUM control charts for process dispersion, based on the use of some robust estimators. In 4th Chapter we present some control charts for joint control of the process mean and process dispersion. Control charts which are described are the Max – CUSUM chart and a EWMA control chart for monitoring both location and dispersion.	en
heal.advisorName	Κουκουβίνος, Χρήστος	el
heal.committeeMemberName	Βόντα, Ηλια	el
heal.committeeMemberName	Καρώνη Ριτσαρντσον, Χρυσηίς	el
heal.academicPublisher	Εθνικό Μετσόβιο Πολυτεχνείο. Σχολή Εφαρμοσμένων Μαθηματικών και Φυσικών Επιστημών	el
heal.academicPublisherID	ntua
heal.numberOfPages	176 σ.	el
heal.fullTextAvailability	true