Μεθοδολογία απόδοσης τιμής απορρόφησης ορατής και υπεριώδους ακτινοβολίας σε πρότυπα φίλτρα αναφοράς Metal on Quartz με την χρήση διακριτών σημείων διακρίβωσης

Χατζούδης, Κωνσταντίνος; Chatzoudis, Konstantinos

dc.contributor.author	Χατζούδης, Κωνσταντίνος	el
dc.contributor.author	Chatzoudis, Konstantinos	en
dc.date.accessioned	2020-07-29T09:23:24Z
dc.date.available	2020-07-29T09:23:24Z
dc.identifier.uri	https://dspace.lib.ntua.gr/xmlui/handle/123456789/51006
dc.identifier.uri	http://dx.doi.org/10.26240/heal.ntua.18704
dc.rights	Αναφορά Δημιουργού-Μη Εμπορική Χρήση-Όχι Παράγωγα Έργα 3.0 Ελλάδα	*
dc.rights.uri	http://creativecommons.org/licenses/by-nc-nd/3.0/gr/	*
dc.subject	Φασματοφωτομετρία	el
dc.subject	Υλικά αναφοράς	el
dc.subject	Πολυωνυμική παλινδρόμηση	el
dc.subject	Διακρίβωση	el
dc.subject	Απορρόφηση	el
dc.subject	Spectrophotometry	en
dc.subject	Reference materials	en
dc.subject	Polynomial regression	en
dc.subject	Calibration	en
dc.subject	Absorbance	en
dc.title	Μεθοδολογία απόδοσης τιμής απορρόφησης ορατής και υπεριώδους ακτινοβολίας σε πρότυπα φίλτρα αναφοράς Metal on Quartz με την χρήση διακριτών σημείων διακρίβωσης	el
heal.type	bachelorThesis
heal.classification	Μετρολογία	el
heal.classification	Στατιστική	el
heal.classification	Φασματοφωτομετρία	el
heal.language	el
heal.access	free
heal.recordProvider	ntua	el
heal.publicationDate	2020-03-03
heal.abstract	Τα υλικά αναφοράς που χρησιμοποιούνται για την διακρίβωση φασματοφωτομέτρων είναι πιστοποιημένα σε κάποια συγκεκριμένα μήκη κύματος με την ιχνηλασιμότητα της απορρόφησης τους να διασφαλίζεται από κάποιο εθνικό ινστιτούτο μετρολογίας μέσω του πιστοποιητικού διακρίβωσής τους. Τι συμβαίνει όμως σε περιπτώσεις όπου μας ενδιαφέρει η ακρίβεια μέτρησης σε κάποιο μήκος κύματος για το οποίο δε διατίθεται πιστοποιημένη τιμή; Η διακρίβωση των πιστοποιημένων υλικών αναφοράς σε περισσότερα μήκη κύματος δεν αποτελεί λύση, αφού για να καλυφθεί μόνο η περιοχή του ορατού φωτός με βήμα 1nm θα χρειαζόντουσαν τουλάχιστον 300 πιστοποιημένες τιμές και το κόστος θα ήταν τεράστιο. Παρουσιάζεται, λοιπόν, η ανάγκη να δοθεί μία μαθηματική λύση στο παραπάνω πρόβλημα. Μια τέτοια λύση αποπειράται να βρει αυτή η εργασία αλλά και να αξιολογήσει την αποτελεσματικότητα της. Πιο συγκεκριμένα, μέσω των διαθέσιμων πιστοποιημένων τιμών για τρία φίλτρα αναφοράς ουδέτερης πυκνότητας μετάλλου σε χαλαζία ονομαστικής διαπερατότητας 1%, 10% και 50% που μελετώνται, ενός φασματοφωτομέτρου μεταφοράς ιχνηλασιμότητας που βρίσκεται εγκατεστημένο στο ιδιωτικό διαπιστευμένο εργαστήριο διακριβώσεων της Total Q και ενός φασματόμετρου οπτικής ίνας υψηλής ακρίβειας που βρίσκεται εγκατεστημένο στο Εργαστήριο Φωτοτεχνίας της Σχολής Ηλεκτρολόγων Μηχανικών και Μηχανικών Υπολογιστών του Ε.Μ.Π. αναζητείται η απορρόφηση των φίλτρων στα μήκη κύματος ενδιάμεσα των πιστοποιημένων Τέλος, αναζητούνται όλες οι πηγές αβεβαιότητας μέτρησης που υπεισέρχονται για τις δύο μεθόδους μέτρησης που εφαρμόστηκαν και για κάθε ένα από τα τρία φίλτρα που μελετώνται και αξιολογούνται τα αποτελέσματα μέτρησης που ελήφθησαν λαμβάνοντας υπόψη και την αβεβαιότητα μέτρησης της κάθε μεθόδου.	el
heal.abstract	The reference materials that are used for the calibration of spectrophotometers are certified at some specific wavelengths with their absorbance traceability being ensured by a national metrology institute with their calibration certificate. What happens, however, in cases where the measurement accuracy of interest is at a wavelength for which there is no certified absorbance value available? Calibrating the reference materials at more wavelengths is not a viable solution since in order to cover the range of visible light with 1nm step more than 300 certified absorbance values would be required and the cost would skyrocket. Therefore, the need arises for mathematical solution to the problem described above. This thesis attempts to find such solution and evaluate its efficiency. Specifically, by use of the available certified absorbance values of three reference neutral density glass filters of nominal transmittance of 1%, 10% and 50%, a traceability transfer located in the accredited calibration laboratory of Total Q and a high resolution fiber optic spectrometer located in the Lighting Laboratory of the school of Electrical and Computer Engineering of N.T.U.A the absorbance of the filters is sought at wavelengths between the certified values. Finally, all the measurement uncertainty sources of the two methods of measurement for each of the three filters that are studied are calculated and the results are evaluated with the measurement uncertainty of each method under consideration	en
heal.advisorName	Τοπαλής, Φραγκίσκος	el
heal.committeeMemberName	Τοπαλής, Φραγκίσκος	el
heal.committeeMemberName	Γκόνος, Ιωάννης	el
heal.committeeMemberName	Αβραμόπουλος, Ηρακλής	el
heal.academicPublisher	Εθνικό Μετσόβιο Πολυτεχνείο. Σχολή Ηλεκτρολόγων Μηχανικών και Μηχανικών Υπολογιστών. Τομέας Ηλεκτρικής Ισχύος	el
heal.academicPublisherID	ntua
heal.numberOfPages	97 σ.
heal.fullTextAvailability	false