Εμφάνιση απλής εγγραφής

dc.contributor.author	Γιοχάλας, Νίκος	el
dc.contributor.author	Giochalas, Nikos	en
dc.date.accessioned	2020-10-20T07:59:56Z
dc.date.available	2020-10-20T07:59:56Z
dc.identifier.uri	https://dspace.lib.ntua.gr/xmlui/handle/123456789/51536
dc.identifier.uri	http://dx.doi.org/10.26240/heal.ntua.19234
dc.rights	Αναφορά Δημιουργού-Μη Εμπορική Χρήση 3.0 Ελλάδα	*
dc.rights.uri	http://creativecommons.org/licenses/by-nc/3.0/gr/	*
dc.subject	Eναλλαγή αντίστασης	el
dc.subject	Nανοσωματίδια	el
dc.subject	Hλεκτρικός χαρακτηρισμός	el
dc.subject	Hλεκτρική υστέρηση	el
dc.subject	Δίοδος	el
dc.subject	ZnO	en
dc.subject	Nanoparticles	en
dc.subject	ReRAM	en
dc.subject	Electrical characterization	en
dc.subject	Hysterisis	en
dc.title	Μελέτη δομών Ag/ZnO NPs/Au με χαρακτηριστικά ReRAM	el
dc.title	Study of Ag/ZnO NPs/Au structures with ReRAM characteristics	en
heal.type	bachelorThesis
heal.classification	Νανοηλεκτρονική	el
heal.classification	Nanoelectronics	en
heal.language	el
heal.language	en
heal.access	free
heal.recordProvider	ntua	el
heal.publicationDate	2020-09-30
heal.abstract	Στη παρούσα εργασία γίνεται παρασκευή και μελέτη ετεροδομημένων διόδων τύπου MSM (Μέταλλο-Ημιαγωγός-Μέταλλο) με το ημιαγώγιμο στρώμα να αποτελείται από νανοσωματιδία Οξειδίου του Ψευδαργύρου (ZnO). Το μέταλλο του κάτω ηλεκτροδίου είναι ο Χρυσός (Au) ενώ ως άνω ηλεκτρόδιο χρησιμοποιείται ο Άργυρος (Ag). Η επιμετάλλωση των επαφών γίνεται μέσω εξάχνωσης με δέσμη ηλεκτρονίων (EBPVD). Για την παρασκευή του αρχικού κολλοειδούς διαλύματος των νανοσω-ματιδίων ακολουθείται μια υγρή χημική μέθοδος, και για την επίστρωση στο κάτω ηλεκτρόδιο γίνεται χρήση της μεθόδου spin-coating. Πραγματοποιείται δομικός χαρακτηρισμός των παρασκευασθέντων νανοσωματιδίων μέσω Ηλεκτρονικής Μικρο-σκοπίας ∆ιέλευσης (TEM), Περιθλασιμετρίας Ακτίνων Χ (XRD) και Φασματοσκοπίας Φωτοφωταύγειας (PL), καθώς και μορφολογικός χαρακτηρισμός του στρώματος των νανοσωματιδίων μέσω Ηλεκτρονικής Μικροσκοπίας Σάρωσης (SEM). Στόχος της εργασίας είναι, μέσω ηλεκτρικού χαρακτηρισμού αυτών των διόδων, να αναδειχθεί η υστερητική συμπεριφορά του ZnO, να διατυπωθούν οι μηχανισμοί αγωγιμότητας που την περιγράφουν και να ελεγχθεί η δυνατότητα ή μη λειτουργίας μιας τέτοιας διάταξης ως μη-πτητική μνήμη με μεταβλητά επίπεδα αγωγιμότητας.	el
heal.advisorName	Τσουκαλάς, Δημήτριος	el
heal.committeeMemberName	Τσουκαλάς, Δημήτριος	el
heal.committeeMemberName	Ράπτης, Ιωάννης	el
heal.committeeMemberName	Κόντος, Αθανάσιος	el
heal.academicPublisher	Εθνικό Μετσόβιο Πολυτεχνείο. Σχολή Εφαρμοσμένων Μαθηματικών και Φυσικών Επιστημών. Τομέας Φυσικής	el
heal.academicPublisherID	ntua
heal.numberOfPages	124 σ.	el
heal.fullTextAvailability	false

Αρχεία σε αυτό το τεκμήριο

Όνομα: Thesis_Nikos ...

Μέγεθος: 17.95Mb

Μορφότυπο: PDF

Περιγραφή: Κείμενο εργασίας

Προβολή/Άνοιγμα

Αυτό το τεκμήριο εμφανίζεται στην ακόλουθη συλλογή(ές)

• Διπλωματικές Εργασίες [17808]
  

Εμφάνιση απλής εγγραφής