dc.contributor.advisor |
Σταθόπουλος, Ιωάννης |
el |
dc.contributor.author |
Καρακίτσιος, Ιωάννης Δ.
|
el |
dc.contributor.author |
Karakitsios, Ioannis D.
|
en |
dc.date.accessioned |
2011-12-16T09:13:44Z |
|
dc.date.available |
2011-12-16T09:13:44Z |
|
dc.date.copyright |
2011-10-18 |
- |
dc.date.issued |
2011-12-16 |
|
dc.date.submitted |
2011-10-18 |
- |
dc.identifier.uri |
https://dspace.lib.ntua.gr/xmlui/handle/123456789/5643 |
|
dc.identifier.uri |
http://dx.doi.org/10.26240/heal.ntua.10195 |
|
dc.description |
146 σ. |
el |
dc.description.abstract |
Τα βελτιωτικά υλικά γειώσεων χρησιμοποιούνται ευρέως σήμερα για τη διατήρηση της αντίστασης γείωσης σε χαμηλά επίπεδα. Ωστόσο η απόδοση των υλικών αυτών δεν παραμένει ίδια κατά τη διάρκεια του έτους, λόγω μεταβολής των περιβαλλοντικών συνθηκών. Στα πλαίσια της διπλωματικής αυτής εργασίας πραγματοποιήθηκαν, σε καθημερινή σχεδόν βάση, μετρήσεις της αντίστασης γείωσης 6 διαφορετικών συστημάτων γείωσης: τα πέντε από αυτά έχουν βελτιωτικά υλικά ενώ το έκτο είναι εγκατεστημένο σε φυσικό έδαφος. Έχουμε έτσι τη δυνατότητα όχι μόνο να παρακολουθήσουμε την ικανότητα των βελτιωτικών υλικών να μειώνουν την αντίσταση γείωσης αλλά και να εξετάσουμε αν η ικανότητα αυτή δικαιολογεί το, ιδιαίτερα αυξημένο σε ορισμένες περιπτώσεις, κόστος αγοράς των υλικών αυτών. Επειδή η ασφάλεια που παρέχει ένα σύστημα γείωσης δεν εξαρτάται μόνο από τη χαμηλή τιμή της αντίστασης γείωσης αλλά και από τις αναπτυσσόμενες βηματικές τάσεις και τάσεις επαφής, πραγματοποιήθηκαν επίσης μετρήσεις της ειδικής αντίστασης του εδάφους οι οποίες, μετά από επεξεργασία με το πρόγραμμα CYMGrd, δίνουν τα μέγιστα επιτρεπόμενα όρια των μεγεθών αυτών. Δίνεται έτσι η δυνατότητα να εξετάσουμε πώς μεταβάλλονται τα μέγιστα επιτρεπόμενα όρια βηματικής τάσης και τάσης επαφής, σε σχέση με το χρόνο καθώς και με ορισμένους περιβαλλοντικούς παράγοντες. |
el |
dc.description.abstract |
Ground enhancing compounds are widely used today to maintain the grounding resistance value in low levels. However the performance of these compounds does not remain the same throughout the year, because of changes in environmental factors. In this diploma thesis measurements of 6 different grounding systems (five of which surrounded by ground enhancing compounds, and one surrounded by natural soil) were carried out on an almost daily basis. Therefore not only can we observe the ability of the ground enhancing compounds to reduce the ground resistance value, but also examine whether this ability justifies the, quite high in some cases, cost of these compounds. Since the safety provided by a grounding system depends both on a low grounding resistance value and on the values of the developing touch and step voltages, measurements of the soil resistivity were carried out as well, which, after being processed with the program CYMGrd, give the maximum permissible value of these voltages. Thus we can observe how the maximum permissible values of the step and touch voltage vary over the year and under the influence of some environmental factors. |
en |
dc.description.statementofresponsibility |
Ιωάννης Δ. Καρακίτσιος |
el |
dc.language.iso |
el |
en |
dc.rights |
ETDFree-policy.xml |
en |
dc.subject |
Αντίσταση γείωσης |
el |
dc.subject |
Βελτιωτικά υλικά |
el |
dc.subject |
Βηματική τάση |
el |
dc.subject |
Ειδική αντίσταση εδάφους |
el |
dc.subject |
Μέγιστα επιτρεπόμενα όρια ασφαλείας |
el |
dc.subject |
Τάση επαφής |
el |
dc.subject |
Ground enhancing compounds |
en |
dc.subject |
Ground resistance |
en |
dc.subject |
Maximum permissible safety values |
en |
dc.subject |
Resistivity |
en |
dc.subject |
Step voltage |
en |
dc.subject |
Touch voltage |
en |
dc.title |
Επίδραση βελτιωτικών υλικών εδάφους στη χρονική μεταβολή της αντίστασης γείωσης κατακόρυφων ηλεκτροδίων |
el |
dc.type |
bachelorThesis |
el (en) |
dc.date.accepted |
2011-10-13 |
- |
dc.date.modified |
2011-10-18 |
- |
dc.contributor.advisorcommitteemember |
Τοπαλής, Φραγκίσκος |
el |
dc.contributor.advisorcommitteemember |
Μανιάς, Στέφανος |
el |
dc.contributor.committeemember |
Σταθόπουλος, Ιωάννης |
el |
dc.contributor.committeemember |
Τοπαλής, Φραγκίσκος |
el |
dc.contributor.committeemember |
Μανιάς, Στέφανος |
el |
dc.contributor.department |
Εθνικό Μετσόβιο Πολυτεχνείο. Σχολή Ηλεκτρολόγων Μηχανικών και Μηχανικών Υπολογιστών. Τομέας Ηλεκτρικής Ισχύος. Εργαστήριο Υψηλών Τάσεων και Ηλεκτρικών Μετρήσεων |
el |
dc.date.recordmanipulation.recordcreated |
2011-12-16 |
- |
dc.date.recordmanipulation.recordmodified |
2011-12-16 |
- |