HEAL DSpace

Διεργαστηριακές συγκρίσεις μετρήσεων ηλεκτρομαγνητικών πεδίων

Αποθετήριο DSpace/Manakin

Εμφάνιση απλής εγγραφής

dc.contributor.advisor Σταθόπουλος, Ιωάννης el
dc.contributor.author Στυλιανού, Ιωάννης Κ. el
dc.contributor.author Stylianou, Ioannis K. en
dc.date.accessioned 2014-01-21T10:34:52Z
dc.date.available 2014-01-21T10:34:52Z
dc.date.copyright 2013-07-18 -
dc.date.issued 2014-01-21
dc.date.submitted 2013-07-18 -
dc.identifier.uri https://dspace.lib.ntua.gr/xmlui/handle/123456789/8663
dc.identifier.uri http://dx.doi.org/10.26240/heal.ntua.8291
dc.description 228 σ. el
dc.description.abstract Η συμμετοχή ενός εργαστηρίου σε ένα σχήμα δοκιμών ικανότητας αποσκοπεί στην αξιολόγηση της επάρκειάς του και τη βελτίωση της επίδοσής του σε ένα συγκεκριμένο πεδίο μετρήσεων. Στην παρούσα διπλωματική εργασία παρουσιάζονται αρχικά οι αρχές που διέπουν ένα σχήμα δοκιμών ικανότητας και οι κανόνες για την ανάλυση των αποτελεσμάτων του, σύμφωνα με τα διεθνή πρότυπα. Στη συνέχεια παρουσιάζονται δύο σχήματα διεργαστηριακών μετρήσεων ηλεκτρομαγνητικών πεδίων που αφορούν το πρώτο σε χαμηλόσυχνα και το δεύτερο σε υψίσυχνα πεδία. Για κάθε μία από τις δύο πειραματικές διαδικασίες περιγράφεται εκτενώς ο υπολογισμός των στατιστικών δεικτών επίδοσης των συμμετεχόντων, παρουσιάζονται τα αποτελέσματα της επεξεργασίας και γίνεται η αξιολόγηση της επίδοσης των εργαστηρίων. Τέλος, παρατίθενται κάποιες σκέψεις για τη μελλοντική βελτίωση και αξιοποίηση των αποτελεσμάτων αυτών των σχημάτων δοκιμών. el
dc.description.abstract The participation of a laboratory in a proficiency testing scheme aims to assess its adequacy and improve its performance in a particular field of measurements. This diploma thesis presents at first the basic principles of a proficiency testing scheme and the rules for the analysis of the results in accordance with international standards. Two interlaboratory comparison schemes involving low frequency and high frequency electromagnetic field measurements are presented. For each of the two experimental procedures we describe in detail the calculation of the performance statistics of the participants and we evaluate the performance of the laboratories based on the results of the statistical analysis. Finally, some thoughts for future improvement and efficient use of the results of those test schemes are stated. en
dc.description.statementofresponsibility Ιωάννης Κ. Στυλιανού el
dc.language.iso el en
dc.rights ETDFree-policy.xml en
dc.subject Σχήματα δοκιμών ικανότητας el
dc.subject Διεργαστηριακές μετρήσεις el
dc.subject Βαθμός z el
dc.subject Αριθμός Εn el
dc.subject Ανθεκτικός αλγόριθμος A κατά ISO 13528 (Annex C) el
dc.subject Ακραία αποτελέσματα el
dc.subject Μη ιοντίζουσες ακτινοβολίες el
dc.subject Χαμηλόσυχνα πεδία el
dc.subject Ραδιοσυχνότητες el
dc.subject Λόγος έκθεσης el
dc.subject Proficiency testing schemes en
dc.subject Interlaboratory comparisons en
dc.subject z score en
dc.subject En number en
dc.subject Robust Algorithm A by ISO 13528 (Annex C) en
dc.subject Outlier en
dc.subject Non-ionizing radiation en
dc.subject Extremely low frequency fields en
dc.subject Radio waves en
dc.subject Exposure quotient en
dc.title Διεργαστηριακές συγκρίσεις μετρήσεων ηλεκτρομαγνητικών πεδίων el
dc.title.alternative Interlaboratory comparisons of electromagnetic field measurements en
dc.type bachelorThesis el (en)
dc.date.accepted 2013-07-17 -
dc.date.modified 2013-07-18 -
dc.contributor.advisorcommitteemember Ιωάννης Σταθόπουλος el
dc.contributor.advisorcommitteemember Αθανάσιος Παναγόπουλος el
dc.contributor.advisorcommitteemember Φίλιππος Κωνσταντίνου el
dc.contributor.committeemember Ιωάννης Σταθόπουλος el
dc.contributor.committeemember Αθανάσιος Παναγόπουλος el
dc.contributor.committeemember Φίλιππος Κωνσταντίνου el
dc.contributor.department Εθνικό Μετσόβιο Πολυτεχνείο. Σχολή Ηλεκτρολόγων Μηχανικών & Μηχανικών Η/Υ. Τομέας Ηλεκτρικής Ισχύος. Εργαστήριο Υψηλών Τάσεων el
dc.date.recordmanipulation.recordcreated 2014-01-21 -
dc.date.recordmanipulation.recordmodified 2014-01-21 -


Αρχεία σε αυτό το τεκμήριο

Αυτό το τεκμήριο εμφανίζεται στην ακόλουθη συλλογή(ές)

Εμφάνιση απλής εγγραφής