Παραμετρική ανάλυση μη καταστροφικού ελέγχου ολογραφικής συμβολομετρίας για αποκόλληση σε πολυστρωματικό υλικό με τη μέθοδο των πεπερασμένων στοιχείων

Φραντζεσκάκης, Παρασκευάς Μ.; Frantzeskakis, Paraskevas M.

dc.contributor.advisor	Προβατίδης, Χριστόφορος	el
dc.contributor.author	Φραντζεσκάκης, Παρασκευάς Μ.	el
dc.contributor.author	Frantzeskakis, Paraskevas M.	en
dc.date.accessioned	2007-12-20T07:49:51Z
dc.date.available	2007-12-20T07:49:51Z
dc.date.copyright	2007-12-13
dc.date.issued	2007-12-20T07:49:51Z
dc.date.submitted	2007-12-13
dc.identifier.uri	https://dspace.lib.ntua.gr/xmlui/handle/123456789/905
dc.identifier.uri	http://dx.doi.org/10.26240/heal.ntua.3349
dc.description	146 σ.	el
dc.description.abstract	Στη συγκεκριμένη διπλωματική εργασία έγινε προσπάθεια διερεύνησης και εντοπισμού των αρνητικών συνεπειών της υπάρξεως αποκόλλησης μεταξύ των στρωμάτων ξύλου, χρώματος και βερνικιού σε πίνακα ζωγραφικής. Ο πίνακας υπόκειται σε θερμοκρασιακή διαφορά μεταξύ δύο χρονικών καταστάσεων και για τη μοντελοποίησής του καθώς και για τη δημιουργία εικόνων μονοχρωματικού φωτός της ολογραφικής συμβολομετρίας έγινε χρήση των προγραμμάτων ANSYS 10.0 και MATLAB 7.1, αντίστοιχα. Η μοντελοποίηση και επίλυση του προβλήματος φόρτισης έγινε με τη μέθοδο των πεπερασμένων στοιχείων.	el
dc.description.abstract	In this diploma work, the consequences of the presence of a defect between the layers of a tableau (wood, paint and varnish) are being investigated. The tableau is under thermal load. For its modeling and for the creation of images of monochromatic light from holographic interferometry the programs ANSYS 10.0 and MATLAB 7.1 were used respectively. The finite element method carried out the modeling and the solution of the problem.	en
dc.description.statementofresponsibility	Παρασκευάς Μ. Φραντζεσκάκης	el
dc.format.extent	175 bytes
dc.format.extent	3138175 bytes
dc.format.mimetype	text/xml
dc.format.mimetype	application/pdf
dc.language.iso	el	en
dc.rights	ETDFree-policy.xml	en
dc.subject	Ολογραφία	el
dc.subject	Πεπερασμένα στοιχεία	el
dc.subject	Ολογραφική συμβολομετρία	el
dc.subject	Κροσσός	el
dc.subject	Μονοχρωματική εικόνα	el
dc.subject	Πολυστρωματικό	el
dc.subject	Holography	en
dc.subject	Holographic interferometry	en
dc.subject	Fringes	en
dc.subject	Monochromatic	en
dc.subject	Multilayered	en
dc.subject	Finite elements	en
dc.title	Παραμετρική ανάλυση μη καταστροφικού ελέγχου ολογραφικής συμβολομετρίας για αποκόλληση σε πολυστρωματικό υλικό με τη μέθοδο των πεπερασμένων στοιχείων	el
dc.title.alternative	Parametric analysis in non-destructive testing of holographic interferometry for defect in multilayered material with the finite element method	en
dc.type	bachelorThesis	el (en)
dc.date.accepted	2007-11-13
dc.date.modified	2007-12-13
dc.contributor.advisorcommitteemember	Προβατίδης, Χριστόφορος	el
dc.contributor.advisorcommitteemember	Σπέντζας, Κωνσταντίνος	el
dc.contributor.advisorcommitteemember	Αντωνιάδης, Ιωάννης	el
dc.contributor.committeemember	Προβατίδης, Χριστόφορος	el
dc.contributor.committeemember	Σπέντζας, Κωνσταντίνος	el
dc.contributor.committeemember	Αντωνιάδης, Ιωάννης	el
dc.contributor.department	Εθνικό Μετσόβιο Πολυτεχνείο. Σχολή Μηχανολόγων Μηχανικών. Τομέας Μηχανολογικών Κατασκευών και Αυτομάτου Ελέγχου. Εργαστήριο Εργαστήριο Δυναμικής και Κατασκευών	el
dc.date.recordmanipulation.recordcreated	2007-12-20
dc.date.recordmanipulation.recordmodified	2007-12-20