HEAL DSpace

Sensitivity of trace-element analysis by X-ray emission induced by 0.1–10 MeV electrons

Αποθετήριο DSpace/Manakin

Εμφάνιση απλής εγγραφής

dc.contributor.author GEORGIADIS, A en
dc.contributor.author APOSTOLAKIS, D en
dc.contributor.author VOURKAS, M en
dc.contributor.author PAPE, A en
dc.date.accessioned 2014-03-01T01:39:53Z
dc.date.available 2014-03-01T01:39:53Z
dc.date.issued 1990 en
dc.identifier.uri https://dspace.lib.ntua.gr/xmlui/handle/123456789/23012
dc.subject Trace Element Analysis en
dc.subject X-ray Emission en
dc.title Sensitivity of trace-element analysis by X-ray emission induced by 0.1–10 MeV electrons en
heal.type journalArticle en
heal.identifier.primary 10.1016/0168-583X(90)90375-5 en
heal.identifier.secondary http://dx.doi.org/10.1016/0168-583X(90)90375-5 en
heal.publicationDate 1990 en
heal.journalName Nuclear Instruments & Methods in Physics Research Section B-beam Interactions With Materials and Atoms en
dc.identifier.doi 10.1016/0168-583X(90)90375-5 en


Αρχεία σε αυτό το τεκμήριο

Αρχεία Μέγεθος Μορφότυπο Προβολή

Δεν υπάρχουν αρχεία που σχετίζονται με αυτό το τεκμήριο.

Αυτό το τεκμήριο εμφανίζεται στην ακόλουθη συλλογή(ές)

Εμφάνιση απλής εγγραφής