HEAL DSpace

Oxygen Migration, Agglomeration, and Trapping: Key Factors for the Morphology of the Si-SiO2 Interface

Αποθετήριο DSpace/Manakin

Εμφάνιση απλής εγγραφής

dc.contributor.author Tsetseris, L en
dc.contributor.author Pantelides, S en
dc.date.accessioned 2014-03-01T01:55:10Z
dc.date.available 2014-03-01T01:55:10Z
dc.date.issued 2006 en
dc.identifier.uri https://dspace.lib.ntua.gr/xmlui/handle/123456789/27627
dc.title Oxygen Migration, Agglomeration, and Trapping: Key Factors for the Morphology of the Si-SiO2 Interface en
heal.type journalArticle en
heal.identifier.primary 10.1103/PhysRevLett.97.116101 en
heal.identifier.secondary http://dx.doi.org/10.1103/PhysRevLett.97.116101 en
heal.publicationDate 2006 en
heal.journalName Physical Review Letters en
dc.identifier.doi 10.1103/PhysRevLett.97.116101 en


Αρχεία σε αυτό το τεκμήριο

Αρχεία Μέγεθος Μορφότυπο Προβολή

Δεν υπάρχουν αρχεία που σχετίζονται με αυτό το τεκμήριο.

Αυτό το τεκμήριο εμφανίζεται στην ακόλουθη συλλογή(ές)

Εμφάνιση απλής εγγραφής