HEAL DSpace

Oxygen Migration, Agglomeration, and Trapping: Key Factors for the Morphology of the Si-SiO2 Interface

Αποθετήριο DSpace/Manakin

Oxygen Migration, Agglomeration, and Trapping: Key Factors for the Morphology of the Si-SiO2 Interface

Tsetseris, L; Pantelides, S
URI: https://dspace.lib.ntua.gr/xmlui/handle/123456789/27627
Ημερομηνία: 2006

Εμφάνιση πλήρους εγγραφής

Αρχεία σε αυτό το τεκμήριο

Αρχεία Μέγεθος Μορφότυπο Προβολή

Δεν υπάρχουν αρχεία που σχετίζονται με αυτό το τεκμήριο.

Αυτό το τεκμήριο εμφανίζεται στην ακόλουθη συλλογή(ές)