Εκτίμηση της αντίστασης γείωσης κατακόρυφων ηλεκτροδίων με χρήση τεχνητών νευρωνικών δικτύων (Τ.Ν.Δ.) – Βελτιστοποίηση Τ.Ν.Δ. μέσω ρύθμισης παραμέτρων και επιλογής εισόδων
Αποθετήριο DSpace/Manakin
JavaScript is disabled for your browser. Some features of this site may not work without it.
Εκτίμηση της αντίστασης γείωσης κατακόρυφων ηλεκτροδίων με χρήση τεχνητών νευρωνικών δικτύων (Τ.Ν.Δ.) – Βελτιστοποίηση Τ.Ν.Δ. μέσω ρύθμισης παραμέτρων και επιλογής εισόδων