Ανάπτυξη μεθοδολογίας εξαγωγής κατανομής βάθους εμφυτευμένων ιόντων υψηλών ενεργειών με χρήση GIXRF
Αποθετήριο DSpace/Manakin
JavaScript is disabled for your browser. Some features of this site may not work without it.
Ανάπτυξη μεθοδολογίας εξαγωγής κατανομής βάθους εμφυτευμένων ιόντων υψηλών ενεργειών με χρήση GIXRF
Τίτλος:Ανάπτυξη μεθοδολογίας εξαγωγής κατανομής βάθους εμφυτευμένων ιόντων υψηλών ενεργειών με χρήση GIXRF; Methodology for depth profiling of implanted high energy ions using GIXRF