HEAL DSpace

Electrical characterization of MOS memory devices containing metallic nanoparticles and a high-k control oxide layer

Αποθετήριο DSpace/Manakin

Electrical characterization of MOS memory devices containing metallic nanoparticles and a high-k control oxide layer

Sargentis, Ch; Giannakopoulos, K; Travlos, A; Tsamakis, D
URI: https://dspace.lib.ntua.gr/xmlui/handle/123456789/17980
Ημερομηνία: 2007

Εμφάνιση πλήρους εγγραφής

Αρχεία σε αυτό το τεκμήριο

Αρχεία Μέγεθος Μορφότυπο Προβολή

Δεν υπάρχουν αρχεία που σχετίζονται με αυτό το τεκμήριο.

Αυτό το τεκμήριο εμφανίζεται στην ακόλουθη συλλογή(ές)