Performance, reliability, radiation effects, and aging issues in microelectronics - from atomic-scale physics to engineering-level modeling

Pantelides, S; Tsetseris, L; Becka, M; Rashkeev, S; Hadjisavvas, G; Batyrev, I; Tuttle, B; Marinopoulos, A; Zhou, X; Fleetwood, D; Schrimpf, R

Ημερομηνία: 2009

Αρχεία σε αυτό το τεκμήριο

Αρχεία	Μέγεθος	Μορφότυπο	Προβολή
Δεν υπάρχουν αρχεία που σχετίζονται με αυτό το τεκμήριο.