HEAL DSpace

Reliability issues in deep deep sub-micron technologies: time-dependent variability and its impact on embedded system design

Αποθετήριο DSpace/Manakin

Reliability issues in deep deep sub-micron technologies: time-dependent variability and its impact on embedded system design

Papanikolaou, A; Wang, H; Miranda, M; Catthoor, F
URI: https://dspace.lib.ntua.gr/xmlui/handle/123456789/35273
Ημερομηνία: 2007

Εμφάνιση πλήρους εγγραφής

Αρχεία σε αυτό το τεκμήριο

Αρχεία Μέγεθος Μορφότυπο Προβολή

Δεν υπάρχουν αρχεία που σχετίζονται με αυτό το τεκμήριο.

Αυτό το τεκμήριο εμφανίζεται στην ακόλουθη συλλογή(ές)