Εκτίμηση της Πιθανότητας Αποτυχίας FinFET SRAM κυττάρων υπό Στατική και Χρονικά Εξαρτώμενη Μεταβλητότητα
Αποθετήριο DSpace/Manakin
JavaScript is disabled for your browser. Some features of this site may not work without it.
Εκτίμηση της Πιθανότητας Αποτυχίας FinFET SRAM κυττάρων υπό Στατική και Χρονικά Εξαρτώμενη Μεταβλητότητα
Τίτλος:Εκτίμηση της Πιθανότητας Αποτυχίας FinFET SRAM κυττάρων υπό Στατική και Χρονικά Εξαρτώμενη Μεταβλητότητα; Estimating the Failure Probability of FinFET-based SRAM Cells under Time-Zero and Time-Dependent Variability