HEAL DSpace

Impact of 7.5MeV proton irradiation on front-back gate coupling effect in ultra thin gate oxide FD-SOI n-MOSFETs

Αποθετήριο DSpace/Manakin

Impact of 7.5MeV proton irradiation on front-back gate coupling effect in ultra thin gate oxide FD-SOI n-MOSFETs

Hayama, K; Takakura, K; Ohyama, H; Rafi, J; Mercha, A; Simoen, E; Claeys, C; Kokkoris, M
URI: https://dspace.lib.ntua.gr/xmlui/handle/123456789/26984
Ημερομηνία: 2004

Εμφάνιση πλήρους εγγραφής

Αρχεία σε αυτό το τεκμήριο

Αρχεία Μέγεθος Μορφότυπο Προβολή

Δεν υπάρχουν αρχεία που σχετίζονται με αυτό το τεκμήριο.

Αυτό το τεκμήριο εμφανίζεται στην ακόλουθη συλλογή(ές)