Performance, reliability, radiation effects, and aging issues in microelectronics – From atomic-scale physics to engineering-level modeling

Pantelides, S; Tsetseris, L; Beck, M; Rashkeev, S; Hadjisavvas, G; Batyrev, I; Tuttle, B; Marinopoulos, A; Zhou, X; Fleetwood, D; Schrimpf, R

Ημερομηνία: 2010

Αρχεία σε αυτό το τεκμήριο

Αρχεία	Μέγεθος	Μορφότυπο	Προβολή
Δεν υπάρχουν αρχεία που σχετίζονται με αυτό το τεκμήριο.