Depth profiling of high energy nitrogen ions implanted in the 〈1 0 0〉, 〈1 1 0〉 and randomly oriented silicon crystals

Eric, M; Petrovic, S; Kokkoris, M; Lagoyannis, A; Paneta, V; Harissopulos, S; Telecki, I

Ημερομηνία: 2012

Αρχεία σε αυτό το τεκμήριο

Αρχεία	Μέγεθος	Μορφότυπο	Προβολή
Δεν υπάρχουν αρχεία που σχετίζονται με αυτό το τεκμήριο.