HEAL DSpace

Depth profiling of high energy nitrogen ions implanted in the 〈1 0 0〉, 〈1 1 0〉 and randomly oriented silicon crystals

Αποθετήριο DSpace/Manakin

Depth profiling of high energy nitrogen ions implanted in the 〈1 0 0〉, 〈1 1 0〉 and randomly oriented silicon crystals

Eric, M; Petrovic, S; Kokkoris, M; Lagoyannis, A; Paneta, V; Harissopulos, S; Telecki, I
URI: https://dspace.lib.ntua.gr/xmlui/handle/123456789/29685
Ημερομηνία: 2012

Εμφάνιση πλήρους εγγραφής

Αρχεία σε αυτό το τεκμήριο

Αρχεία Μέγεθος Μορφότυπο Προβολή

Δεν υπάρχουν αρχεία που σχετίζονται με αυτό το τεκμήριο.

Αυτό το τεκμήριο εμφανίζεται στην ακόλουθη συλλογή(ές)