HEAL DSpace

A spectro-microscopic approach for thin film analysis: Grain boundaries in mc-Si and Sn/SnO2 nano particles

Αποθετήριο DSpace/Manakin

A spectro-microscopic approach for thin film analysis: Grain boundaries in mc-Si and Sn/SnO2 nano particles

Hoffmann, P; Mikalo, RP; Yfantis, A; Batchelor, DR; Appel, G; Yfantis, D; Schmeisser, D
URI: https://dspace.lib.ntua.gr/xmlui/handle/123456789/30593
Ημερομηνία: 2001

Εμφάνιση πλήρους εγγραφής

Αρχεία σε αυτό το τεκμήριο

Αρχεία Μέγεθος Μορφότυπο Προβολή

Δεν υπάρχουν αρχεία που σχετίζονται με αυτό το τεκμήριο.

Αυτό το τεκμήριο εμφανίζεται στην ακόλουθη συλλογή(ές)