Reliability issues in deep deep sub-micron technologies: time-dependent variability and its impact on embedded system design

Papanikolaou, A; Miranda, M; Wang, H; Catthoor, F; Satyakiran, M; Marchal, P; Kaczer, B; Bruynseraede, C; Tokei, Z

Ημερομηνία: 2006

Αρχεία σε αυτό το τεκμήριο

Αρχεία	Μέγεθος	Μορφότυπο	Προβολή
Δεν υπάρχουν αρχεία που σχετίζονται με αυτό το τεκμήριο.