HEAL DSpace

THE APPLICABILITY OF LOGARITHMIC EXTREME-VALUE DISTRIBUTIONS IN ELECTOMIGRATION INDUCED FAILURES OF AL/CU THIN-FILM INTERCONNECTS

Αποθετήριο DSpace/Manakin

THE APPLICABILITY OF LOGARITHMIC EXTREME-VALUE DISTRIBUTIONS IN ELECTOMIGRATION INDUCED FAILURES OF AL/CU THIN-FILM INTERCONNECTS

LOUPIS, MI; AVARITSIOTIS, JN
URI: https://dspace.lib.ntua.gr/xmlui/handle/123456789/36932
Ημερομηνία: 1995

Εμφάνιση πλήρους εγγραφής

Αρχεία σε αυτό το τεκμήριο

Αρχεία Μέγεθος Μορφότυπο Προβολή

Δεν υπάρχουν αρχεία που σχετίζονται με αυτό το τεκμήριο.

Αυτό το τεκμήριο εμφανίζεται στην ακόλουθη συλλογή(ές)